こちらの製品は販売終了しております。
お客様のご希望製品の最新情報や代替品についての詳細をお知りになりたい場合、以下のリンクよりご確認いただけます。引き続き、当社の製品をご愛用いただけますようお願い申し上げます。
JSM-6490／JSM-6490LVに日本電子製元素分析装置を融合し、快適な操作環境を提供します。大型試料の観察から分析までをシームレスに実行できます。JSM-6490LAでは、非導電性試料も、そのまま観察分析できます。
仕様・オプション
| 分解能 | 3.0nm(30kV),8.0nm(3kV)、15nm(1kV) |
|---|---|
| 倍率 | ×5～300,000 |
| 試料寸法 | 200mmφ |
| 元素分析装置 | EDS内蔵 |
| 低真空SEM | JSM-6490LAに組込み、4.0nm(30kV) |
アプリケーション
JSM-6490A_6490LAに関するアプリケーション
走査電子顕微鏡（SEM）でのステレオ（３D）写真の撮影と観察5:ステレオ３Ｄアナグリフ写真集
走査電子顕微鏡（SEM）でのステレオ（３D）写真の撮影と観察4:アナグリフ方式ステレオ写真
走査電子顕微鏡（SEM）でのステレオ（３D）写真の撮影と観察3:ステレオメガネの紹介
走査電子顕微鏡（SEM）でのステレオ（３D）写真の撮影と観察2:ステレオ写真の見かた
more info
