SEMICON® Japan 2019
公開日： 2019/05/08
故障解析やプロセス開発用途として使用される電子顕微鏡をはじめとした各種、理科学・計測機器や。リソグラフィー用途として使用される電子ビーム描画装置の展示を行ないます。ご多忙中とは存じますが、この機会にぜひご来場頂きます様、謹んでご案内申し上げます。
主催:SEMI (Semiconductor Equipment and Materials International)
公式サイト
開催日/会場
- 日程:
2019年12月11日(水)～12月13日(金) ※開催時間: 10:00～17:00 - 会場:
東京ビッグサイト 南展示棟1ホール(ブースNo.7121)
〒135-0063 東京都江東区有明3-11-1
地図
展示内容
故障解析・プロセス開発用途製品
- JEM-ACE200F ハイスループット解析電子顕微鏡
- JCM-7000 NeoScope™ 卓上走査電子顕微鏡
- JSM-IT500HR InTouchScope™ 走査電子顕微鏡
- JSM-F100 ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡
- JSM-7900F ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡
- JAMP-9510F オージェマイクロプローブ
- miXcroscopy™ 光学顕微鏡/走査電子顕微鏡リンクシステム
- JIB-4000PLUS 集束イオンビーム加工観察装置
- IB-19530CP クロスセクションポリッシャ™ 断面試料作製装置
- JMS-MT3010HRGA INFITOF 多重周回飛行時間質量分析計
- inVia series 顕微ラマン分光装置
- Park HDMシリーズ 原子間力顕微鏡
- シェアリングサービスのご案内
リソグラフィー
粗品(ノベルティ)のご案内
ブースご来場の方にパタリーノ(レイメイ藤井社製)かクリーンルームノートをプレゼント致します。
会期中にダウンロードした粗品引換券をプリントアウトし、日本電子ブース受付までお持ちください。
※数量に限りがありますので、お1人様1個までとさせて頂きます。
※会期中にどちらかの粗品が無くなった場合は、ご希望の品をご提供できない場合がございます。
お問い合わせ
日本電子株式会社
ブランドコミュニケーション本部 ブランド企画推進部
担当: 廣川(ひろかわ)・嶋田(しまだ)
TEL: 03-6262-3560・FAX: 03-6262-3577
e-mail: jeol_event[at]jeol.co.jp ※[at]は@にしてください
