nano tech 2020 (第19回 国際ナノテクノロジー総合展・技術会議)
公開日： 2019/05/08
最新卓上SEM /JCM-7000、および高輝度電子銃搭載の走査電子顕微鏡/JSM-IT500HRの実機デモンストレーションをはじめとしたナノ評価・計測分析装置の紹介展示を行います。皆様のご来場を心よりお待ちしています。
主催:nano tech 実行委員会、株式会社JTBコミュニケーションデザイン
公式サイト
開催日/会場
- 日程:
2020年1月29日(水)～1月31日(金) 開催時間: 10:00～17:00 - 会場:
東京ビッグサイト 西展示棟1ホール (ナノアナリティクスゾーン：ブースNo.1W-R29)
〒135-0063 東京都江東区有明3-11-1 地図
展示内容
走査電子顕微鏡
- Live Demo JCM-7000 NeoScope™ 卓上走査電子顕微鏡
- Live Demo JSM-IT500HR InTouchScope™ 走査電子顕微鏡
- JSM-F100 ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡
透過電子顕微鏡
微小領域分析・表面分析装置
イオンビーム応用装置
その他計測機器
- 顕微ラマン分光装置(レニショー社製)
- 原子間力顕微鏡(パーク・システムズ社製)
サービス＆ソリューション
電子ビーム描画装置
粗品(ノベルティ)のご案内
ブースご来場の方にパタリーノ(薄型ペンケース)※かJEOLオリジナル文具セットをプレゼント致します。
※レイメイ藤井社製
粗品引換券をプリントアウトし、日本電子ブース受付までお持ちください。
引き換え券はこちらから (PDF 908KB)
数量に限りがありますので、お1人様1個までとさせて頂きます。会期中にどちらかの粗品が無くなった場合は、ご希望の品をご提供できない場合がございます。
お問い合わせ
日本電子株式会社
ブランドコミュニケーション本部 ブランド企画推進部
担当: 廣川(ひろかわ)・嶋田(しまだ)
TEL: 03-6262-3560・FAX: 03-6262-3577
e-mail: jeol_event[at]jeol.co.jp ※[at]は@と置き換えてください
