第39回 ネプコン ジャパン -エレクトロニクス 開発・実装展-

日本電子ブースでは、新製品であるクロスセクションポリッシャ™（断面試料作製装置）、JCM-7000 NeoScope™ 卓上走査電子顕微鏡、JSX-1000S エネルギー分散形蛍光X線分析装置 (XRF)の実機デモンストレーションを行います。また最新の装置やアプリケーションをパネルでご紹介いたします。皆様のご来場をお待ちしております。

開催日/会場

• 日程:
  2025年1月22日 (水) ～ 24日 (金)
  10:00～17:00

• 会場:
  東京ビックサイト
  〒135-0063 東京都江東区有明３丁目１１−１地図

• ブース番号:
  E15-26（東京ビッグサイト東2ホール）

展示内容

装置

実機でのデモンストレーションを予定しています。

JCM-7000 NeoScope™ 卓上走査電子顕微鏡

JSX-1000S エネルギー分散形蛍光X線分析装置 (XRF)

IB-19540CP クロスセクションポリッシャ™ IB-19550CCP 冷却クロスセクションポリッシャ™

パネル

JSM-IT210 走査電子顕微鏡

JSM-IT710HR 走査電子顕微鏡

JSM-IT810 ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡

JIB-PS500i FIB-SEMシステム

JEM-120i 電子顕微鏡

走査電子顕微鏡 (SEM)ラインナップ

集束イオンビーム加工観察装置 (FIB)ラインナップ

表面分析装置（SA）ラインナップ

関連リンク

お問い合わせ

日本電子株式会社
デマンド推進本部
e-mail: jeol_event[at]jeol.co.jp

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