日本電子news Vol.50

Applications

• クライオ電子顕微鏡法の技術開発と生命科学への貢献

  難波 啓一、 加藤 貴之
  大阪大学 大学院 生命機能研究科

• モノクロメータ搭載STEM-EELSによる電子状態解析

  倉田 博基
  京都大学 化学研究所 附属先端ビームナノ科学センター

• 軟X線発光分光法（SXES）を用いた化学結合状態分析

  寺内 正己、 佐藤 庸平
  東北大学多元物質科学研究所 先端計測開発センター

• 高分子材料の解析におけるESRの活用

  仲山 和海
  一般財団法人化学物質評価研究機構 東京事業所 高分子技術部

• 固体NMR・X線回折・電子回折の複合アプローチによる低分子有機物の構造解析法

  西山 裕介^{1, 2
  1}株式会社JEOL RESONANCE　²理化学研究所CLST-JEOL連携センター

• 電子線トモグラフィーによる半導体材料の解析

  青山 佳敬¹、大西 市朗¹、遠藤 徳明¹、奥西 栄治¹、佐々木 健夫²、岩澤 頼信³、近藤 行人^{1
  1}日本電子株式会社 EM事業ユニット　²JEOL（U.K.） LTD.　³日本電子株式会社 周辺機器事業ユニット

• 電子顕微鏡を用いた生物試料の三次元観察法の比較

  春田 知洋
  日本電子株式会社 アプリケーション統括室

• 電子イオン化（EI）と光イオン化（PI）を併用したGC×GC-HRTOFMSによる石油試料中のバイオマーカーの分析

  生方 正章、上田 祥久
  日本電子株式会社 MS事業ユニット

• 電子ビーム描画装置JBX-8100FSの開発

  會田 征德
  日本電子株式会社 SE事業ユニット

製品紹介

• 電界放出型クライオ電子顕微鏡 JEM-Z200FSC/JEM-Z300FSC CRYO ARM™