nano tech 2023 (第22回 国際ナノテクノロジー総合展・技術会議)

「技術開発の想定外の出会いに」「新たな用途開拓に」「新規顧客/事業パートナーの開拓に」。新しい社会変革を牽引するナノテクノロジーがここに集結。弊社はnano tech 2023に出展し、電子顕微鏡や半導体製造装置の紹介を行います。

ご多忙中とは存じますが、この機会にぜひご来場頂きます様、謹んでご案内申し上げます。

開催日/会場

• 日程:
  2023年2月1日 (水) ～ 3日 (金) 10:00 ～ 17:00

• 会場
  東京ビッグサイト (東ホール & 会議棟)
  〒135-0063 東京都江東区有明3-11-1 地図

• 交通アクセス:
  りんかい線 国際展示場駅 (下車 徒歩約7分)
  ゆりかもめ 東京ビッグサイト駅 (下車 徒歩約3分)

• JEOLブースNo.:
  1T-10

• 同時開催:
  TCT Japan 2022 -3Dプリンティング & AM技術の総合展-
  (JEOLブース: 東京ビッグサイト 東3ホール 3C-18)

展示のご案内

透過電子顕微鏡

JEM-ARM200F NEOARM 原子分解能分析電子顕微鏡

極微小単結晶構造解析プラットフォーム XtaLAB Synergy-ED

SightSKY (EM-04500SKY) 高感度・低ノイズ ファイバーカップリングCMOSカメラ

走査電子顕微鏡

JSM-IT510 InTouchScope™ 走査電子顕微鏡

JSM-IT700HR InTouchScope™ 走査電子顕微鏡

JSM-IT800 ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡

Gather-X JEDシリーズ ドライSD™ Windowless EDS

微小領域分析・表面分析装置

JXA-iSP100 電子プローブマイクロアナライザー (EPMA)

JXA-iHP200F フィールドエミッション電子プローブマイクロアナライザー (FE-EPMA)

JAMP-9510F フィールドエミッションオージェマイクロプローブ

イオンビーム応用装置

JIB-PS500i FIB-SEMシステム

JIB-4000PLUS 集束イオンビーム加工観察装置

電子ビーム描画装置

JBX-8100FSシリーズ 電子ビーム描画装置

JBX-9500FS 電子ビーム描画装置

サービス＆ソリューション

受託分析の紹介

シェアリングサービスの紹介

粗品 (ノベルティ) のご案内

数量限定！！ご来場記念プレゼント

ダウンロードした引換券をプリントアウト、もしくはスマートフォン等で引換券をスクリーンショットしてJEOLブースの受付までお越しください。数量に限りがありますので、お1人様1個までとさせて頂きます。 いずれかの粗品が無くなった場合は、ご希望の品をご提供できない場合がございます。

お問い合わせ

日本電子株式会社
デマンド推進本部 企画部 イベントグループ
e-mail: jeol_event[at]jeol.co.jp

• [at]は＠に、ご変更ください。