nano tech 2025 国際ナノテクノロジー 総合展・技術会議

イノベーションで未来のビジネスを拓く
Bridge to Future Business: Innovating Nanotechnology

研究開発の重要な共通基盤技術であるナノテクノロジーを軸に未来技術の社会実装を探求するnano techに日本電子は出展いたします。日本電子ブースでは、ナノテクノロジー計測・観察・分析機器を中心にご紹介いたします。みなさまのご来場をお待ちしております。

開催日/会場

• 日程:
  2025年1月29日 (水) ～ 31日 (金) 10:00～17:00

• 会場:
  東京ビッグサイト
  〒135-0063 東京都江東区有明３丁目１１−１　地図

• ブース番号:
  東展示棟4ホール(ブース No.4F-22)

展示内容

ナノテクノロジー計測・観察・分析機器

JSM-IT210 走査電子顕微鏡

JCM-7000 NeoScope™ 卓上走査電子顕微鏡

JIB-PS500i FIB-SEMシステム

IB-19540CP クロスセクションポリッシャ™ / IB-19550CCP 冷却クロスセクションポリッシャ™

JXA-iHP200F フィールドエミッション 電子プローブマイクロアナライザー (FE-EPMA)

JAMP-9510F フィールドエミッション オージェマイクロプローブ

JPS-9030 光電子分光装置(XPS)

JSX-1000S エネルギー分散形蛍光X線分析装置 (XRF)

サービス＆ソリューション

受託分析のご紹介

シェアリングサービスのご紹介

リソグラフィー

JBX-8100FSシリーズ 電子ビーム描画装置

JBX-A9 シリーズ 電子ビーム描画装置

JBX-3200MV 電子ビーム描画装置

関連リンク

お問い合わせ

日本電子株式会社
デマンド推進本部
e-mail: jeol_event[at]jeol.co.jp

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