nano tech 2022 (第21回 国際ナノテクノロジー総合展・技術会議)
公開日： 2021/12/17
新しい社会変化を支えるナノテクノロジーをメインテーマとして「nano tech 2022 第21回 国際ナノテクノロジー総合展・技術会議」が1/26～1/28に開催されます。
弊社はナノアナリティクスゾーンに、卓上SEM のJCM-7000の実機デモンストレーションをはじめとしたナノ評価・計測分析装置の紹介展示を行います。
皆様のご来場を心よりお待ちしています。
主催: nano tech 実行委員会
公式サイト
開催日/会場
- 日程:
2022年1月26日 (水) ～1月28日 (金) (開催時間: 10:00～17:00) - 会場:
東京ビッグサイト 東展示棟2ホール
〒135-0063 東京都江東区有明3-11-1 地図 - 交通アクセス:
りんかい線 国際展示場駅 (下車 徒歩約7分)
ゆりかもめ 東京ビッグサイト駅 (下車 徒歩約3分) - JEOLブース:
No.2T-10 - 同時開催:
TCT Japan 2022 -3Dプリンティング & AM技術の総合展-
(JEOLブース: No.3G-10)
展示内容
透過電子顕微鏡
走査電子顕微鏡
- Live Demo JCM-7000 NeoScope™ 卓上走査電子顕微鏡
- JSM-IT510 InTouchScope™ 走査電子顕微鏡
- JSM-IT700HR InTouchScope™ 走査電子顕微鏡
- JSM-IT800SHL/i/is 電界放出形走査電子顕微鏡
微小領域分析・表面分析装置
- JXA-iSP100 電子プローブマイクロアナライザー (EPMA)
- JXA-iHP200F フィールドエミッション電子プローブマイクロアナライザー (FE-EPMA)
- JAMP-9510F フィールドエミッションオージェマイクロプローブ
イオンビーム応用装置
- IB-10500HMS クロスセクションポリッシャ™ ハイスループットミリングシステム
- CP精密加工位置合わせ顕微鏡
- JIB-4700F 複合ビーム加工観察装置
電子ビーム描画装置
サービス＆ソリューション
粗品 (ノベルティ) のご案内
数量限定！！ご来場記念プレゼント
- ダウンロードした引換券をプリントアウト、もしくはスマートフォン等で引換券をスクリーンショットしてJEOLブースの受付までお越しください。
- 数量に限りがありますので、お1人様1個までとさせていただきます。 いずれかの粗品が無くなった場合は、ご希望の品をご提供できない場合がございます。
卓上モバイルスタンド
スマートフォンやタブレットの画面を見やすい位置に固定して立て掛けできるスタンドです。また、機器に充電ケーブルを挿したままスタンドに立て掛けができるのでケーブルを挿したままウェブ会議や動画視聴に活用できます。
折りたたみ傘ケース
通勤や通学時のバッグに折りたたみ傘を入れる際にご活用ください。ケースの外側は水滴を弾くアクリル製、内側のマイクロファイバーは水滴を吸収しますので、再度傘を開くときも便利です。
お問い合わせ
日本電子株式会社
デマンド推進本部 企画部 イベントグループ
e-mail: jeol_event[at]jeol.co.jp ※[at]は@にしてください
