JASIS 2024
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開催日/会場
日程:
2024年9月4日(水)~9月6日(金)会場:
幕張メッセ 国際展示場
〒261-8550 千葉県千葉市美浜区中瀬2丁目1 地図ブースNo:
5B-801セミナー (新技術説明会) 講演会場:
幕張メッセ 国際会議場 (国際展示場に隣接)、TKP (旧アパ) 会場
展示製品情報
ブース内セミナー
TEM |
より身近なツールへと進化した最新透過電子顕微鏡"JEM-120i"のご紹介加速電圧120 kVの透過電子顕微鏡は、生物・高分子といったソフトマテリアルの分野を中心に幅広く活用されています。日本電子では『Compact』・『Easy To Use』・『Expandable』をコンセプトとして、新たにJEM-120iを開発しました。倍率モードの切替えが不要なシームレス観察や着脱が簡単なフィラメント交換など、JEM-1400シリーズから一新した次世代電子顕微鏡JEM-120iについて紹介します。
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XRF |
SEMユーザー必見!ICPより簡便なXRF元素分析のご紹介XRFやSEM-EDSは、元素分析を行う手法の一つとして用いられます。この二つの分析手法を比べると元素の検出感度に違いがあり、SEMの代表的な用途の一つである異物分析においては、XRFを用いたほうが高感度に分析できるケースがあります。また、XRFの代表的な用途である微量元素分析について、XRFと同様に微量元素分析に用いられるICPと比べると、XRFはサンプリングを含めた測定全体のプロセスを短時間に行うことができます。本発表では、このような特長を持つXRF分析について、他の分析手法との違いとともに紹介します。
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SEM |
SEMオペレーター不足をさくっと解決!進化系SEM連続自動測定機能NeoActionの紹介卓上SEM JCM-7000と高分解能SEM JSM-IT810シリーズに搭載したNeoActionは、まるでオペレーターが操作しているかのように、予め作成したフロー通りにSEMが加速電圧/信号種などの条件変更、Autoでの画像調整、位置変更しながら自動で観察/分析を行う新機能です。これにより、無人操作でデータ取得からレポート作成までのルーティン作業が可能です。SEMオペレーター不足でお困りの方、マルチタスクで多忙な方にぜひ活用いただきたい機能です!
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NMR |
NMRにおける冷媒管理と日常点検からの解放
NMRを使用するためには、「液体ヘリウム等の冷媒管理」及び「90°パルス幅、分解能などの日常点検」が必須で必要な作業となります。
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GC-MS |
最新のGC-MS定性解析ソフトウェアのご紹介:msFineAnalysis AI および iQ ver.2昨年リリースしたGC-TOFMS専用解析ソフトウェアmsFineAnalysis AI は、未知物質の自動構造解析をAI技術で実現しました。この度AI技術を進化させて、より精度・確度高い構造解析結果を提供するバージョン2をリリースします。バージョン2では特定化合物、異性体などの目的化合物を迅速に探索するターゲット分析機能も搭載します。更に、GC-QMS専用解析ソフトウェアmsFineAnalysis iQもバージョン2に進化し、同じくターゲット分析機能を搭載します。2つの最新GC-MS定性解析ソフトウェアについてご紹介します。
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EPMA |
電子プローブマイクロアナライザー (EPMA) のWDSとEDSを用いた最新分析技術の紹介電子プローブマイクロアナライザー (EPMA) は試料に電子線を照射し、得られたさまざまな信号を用いて、試料表面の組織、形態観察とミクロンオーダーの局所元素分析を行う分析装置です。日本電子のEPMAはWDS、EDSを搭載でき、WDED同時元素分析が可能です。今回のセミナーではWDSとEDSの原理、それらの違いについて実際の分析結果をもとに説明し、最新のWDED分析技術を紹介します。
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MALDI TOFMS |
進化を続けるMALDI-TOFMS『JMS-S3000 Spiral-TOF™-plus 3.0』 のご紹介JEOL独自のSpiralTOFイオン光学系を採用した超高質量分解能・高感度MALDI-TOFMSシステムであるJMS-S3000は、SpiralTOFモードでの測定質量範囲を拡大し、SpiralTOF™-plus 3.0へと進化しました。さらに、マスイメージングデータ処理ソフトウェア msMicroImager™ version 3 (オプション) には、走査電子顕微鏡で培った画像処理技術をマスイメージングデータに最適化した"FINE-AI Filter"を新たに実装し、マスイメージングデータ画質の大幅向上を実現しました。進化し続けるSpiralTOF™-plus 3.0の魅力をご紹介します。
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SEM |
「簡単」から「自動」測定の時代へ 新型FE-SEM JSM-IT810のご紹介JSM-IT810は、次世代型電子光学制御システム"Neo Engine"と、高い操作性を実現する"SEM Center"を搭載しています。さらに自動観察・分析機能"Neo Action"や自動校正機能により、効率よく質の高いデータ取得が可能です。汎用性の高い〈HL〉、より高分解能観察や分析を可能にする〈SHL〉、傾斜試料などの高分解能観察を可能にする〈SIL〉をラインナップしており、様々なニーズに応じた装置を提供します。本セミナーではこれら特長や新機能についてご紹介いたします。
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アプリケーション展示情報
総合理科学機器メーカーとしての利点を生かし、多様な分析機器を使用したアプリケーションを紹介いたします。
半導体分野 | 半導体の微細構造を解明する微小部解析 |
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電池分野 | 二次電池 in-situ SEM / Windowless EDSによるLi分析 |
バイオ分野 | 医薬品:分析で医療をサポート ~インスリン由来アミロイドーシス~ 創薬: API の構造解析ソリューション |
サスティナビリティ分野 | 分析装置の先進技術が、持続可能な未来を形作る |
食品分野 | 食品関連の様々な分析と多彩なアプローチ |
触媒分野 | 触媒挙動の"in situ TEM&MS観察" |
高分子分野 | サーキュラーエコノミーの未来を切り開く多角的分析技術 |
CLEM 光-電子相関顕微鏡法 |
光と電子の融合 -材料からバイオまで- |
表面処理分野 | 科学の眼が解き明かす匠の世界!日本のめっき技術 |
サービス&ソリューション展示情報
JEOLは、装置を購入すること以外に新しい装置利用の提案をしています。
卓上SEMから試料作製装置、大型TEMやNMRまで、業界屈指の製品群を誇るJEOLのラインナップをお客様のご都合に合わせて、お気軽に使用いただけるプランを用意しています。
セミナー( 新技術説明会) のご案内
講演会場: 幕張メッセ国際会議場、TKP (旧アパ) 会場
毎年恒例の新技術説明会では最新の分析機器 / 分析技術や分析ノウハウのご紹介を行います。
9月4日 (水)
日時 | 講演会場 | タイトル 要旨 |
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10:15~10:45 | TKP (旧アパ) 会場 No.8 |
クライオ FIB-SEMの紹介 ~
生体試料から食品、材料系試料へ~ 新開発したJEOL製クライオFIB-SEMはJEOL製Cryo-TEMとのリンケージを強化し、煩雑な液体窒素中でのグリッド作業を大幅に軽減した。本講演では、装置の特長や生体や食品などの応用例を紹介する。 |
11:00~11:30 | TKP (旧アパ) 会場 No.2 |
ソフトウェアによるNMRデータ解析支援 NMRデータ解析に特化したJEOL発のソフトウェアJASON (Jeol Analytical SOftware Network) について、導入から使い方、解析ツールの特徴などをご紹介します。 |
12:45~13:15 | TKP (旧アパ) 会場 No.7 |
使いやすく、効率アップ! 新型CPの紹介 Arイオンビーム断面試料作製装置クロスセクションポリッシャ™ (CP)は、ハイスループットイオンソースを標準搭載し、さらに遠隔操作が可能になりました。新型CPの機能とアプリケーションを紹介します。 |
13:30~14:00 | 幕張メッセ会議場 104会議室 |
AIとGC-MSを用いた食品分析最新事例!香気分析・メタボロミクスにおける未知物質の定性解析ソリューション GC-MSによる食品の香気・メタボローム分析では、ライブラリーデータベースに未登録の"未知物質"が検出されるケースがある。今回は、AIを活用した定性解析ソリューションによるこれら未知物質の解析例を紹介する。 |
9月5日 (木)
日時 | 講演会場 | タイトル 要旨 |
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10:15~11:15 | TKP (旧アパ) 会場 No.10-11 |
質量分析への第一歩:
スタートラインに立つあなたに! 質量分析は、物質の同定や定量解析に利用され、高感度・高分解能で精密な分析が可能である。今回は、食品や環境、材料の分析などの広い範囲で活用されているGC/MSを中心に解説する。 |
12:45~13:15 | TKP (旧アパ) 会場 No.1 |
電子スピン共鳴 (ESR)
法の材料分析への応用 ESR法は物質中の電子スピンを観測することで、その反応性、運動性、構造に関する情報を取得できる磁気共鳴分光です。本発表では、ESRから得られる基礎的な情報と材料分析に利用できる応用例をいくつかご紹介します。 |
14:00~14:30 | 幕張メッセ会議場 103会議室 |
基礎から学べる!ソフトマテリアルの極微観察~TEM試料作製から観察まで~ TEMを使ったソフトマテリアル観察の基礎とアプリケーションを、TEMの原理や試料作製の流れとともにご紹介する。 |
15:45~16:15 | TKP (旧アパ) 会場 No.5 |
NMR測定における簡易多重共鳴測定の応用 我々が開発したMFDS (Multi Frequency Drive System) により標準的な2chNMR装置において三重共鳴測定を行うことが可能となった。これにより簡単に三重共鳴測定が行えることを示したい。 |
9月6日 (金)
日時 | 講演会場 | タイトル 要旨 |
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11:15~11:45 | TKP (旧アパ) 会場 No.7 |
そのGC-MS測定、窒素でできます!~ヘリウム不足を乗り切るための代替キャリアガスアプリケーションの紹介~ 近年続くヘリウム不足において、GC-MSのキャリアガスとしてヘリウム以外の選択肢を考えることは極めて重要です。本セミナーでは、取扱が容易な窒素の利用を中心に様々なアプリケーションへの応用例をご紹介します。 |
12:30~13:00 | 幕張メッセ会議場 105会議室 |
電子顕微鏡と質量分析計で切り拓く高分子材料分析~ポリエチレンテレフタレートの劣化における形態変化と分子構造変化~ PETは食品包装、飲料容器、繊維など利用用途の広い熱可塑性ポリエステルである。ここでは電子顕微鏡や高分解能質量分析計を組み合わせたPET劣化による形態変化、分子構造変化を多角的に分析する。 |
13:30~14:00 | TKP (旧アパ) 会場 No.1 |
電子プローブマイクロアナライザー (EPMA) による軟X線発光分光器測定
~より使いやすくなった新ソフトウェアのご紹介~ ソフトウェア構成を刷新し、軟X線発光分光器測定の機能をコンポーネントとして再構築しEPMA制御ソフトウェアに統合した。 操作性の向上した新しいインテグレーションソフトウェアの概要について説明する。 |
14:15~14:45 | 幕張メッセ会議場 101会議室 |
『TEMって何が出来る?
~TEMで紐解く材料試料の微細な構造~』 TEMは微細構造を観察するための強力なツールであり、その観察手法や応用は多岐に渡る。本発表では材料系試料を用いて、TEMの原理とともにその応用例を紹介する。 |
粗品 (ノベルティ) のご案内
数量限定!!ご来場記念プレゼント
ダウンロードした引換券をプリントアウト、もしくはスマートフォン等で引換券をスクリーンショットしてJEOLブースの受付までお越しください。
数量に限りがありますので、お1人様1個までになります。いずれかの粗品が無くなった場合は、ご希望の品をご提供できない場合がございます。

4 in 1 USBハブ
同時に複数のUSBデバイスを使用することができます。1つはtype-C接続可能。

サーモス 真空断熱ステンレスタンブラー (350 ml)
真空断熱構造なので結露しにくく、テーブルを汚しません。保冷・保温OK。

残糸ハンカチタオル
今治タオルを織っている工場で生産しています。織り上げるときに、糸はどうしても余裕を持って用意しなければならない。
その糸を捨ててしまうのはもったいないから再利用しよう。そんな気持ちで開発したタオルです。品質は他のタオルと変わらず、環境的にもエコな商品です。

ライトキャンバストートバッグ M
柔らかくて耐久性抜群の使いやすいトートバッグ。無漂白のエコバッグです。
お問い合わせ
日本電子株式会社
デマンド推進本部
e-mail: jeol_event[at]jeol.co.jp
- ※[at]は@にしてください