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新製品一覧

カーボンコーター  VC-300S/300W (真空デバイス社製)

カーボンコーターVC-300S/300W (真空デバイス社製)

CRYO-FIB-SEM

CRYO-FIB-SEM IB-Z200021CFS & IB-Z200022CPC

JSM-IT210 走査電子顕微鏡

JSM-IT210 走査電子顕微鏡

JSM-IT710HR 走査電子顕微鏡

JSM-IT710HR 走査電子顕微鏡

冷媒蒸発抑制装置

JIB-PS500i FIB-SEMシステム

JIB-PS500i FIB-SEMシステム

JMS-Q1600GC UltraQuad™ SQ-Zeta ガスクロマトグラフ四重極質量分析計

JMS-Q1600GC UltraQuad™ SQ-Zeta ガスクロマトグラフ四重極質量分析計

NMR spectrometer ECZ Luminous™ (JNM-ECZLシリーズ) FT NMR装置

NMR spectrometerECZ Luminous™(JNM-ECZLシリーズ)FT NMR装置

極微小単結晶構造解析プラットフォーム XtaLAB Synergy-ED

極微小単結晶構造解析プラットフォームXtaLAB Synergy-ED

JAM-5200EBM 電子ビーム金属3Dプリンター

JMS-T2000GC AccuTOF™ GC-Alpha

JMS-T2000GC AccuTOF™ GC-Alpha高性能ガスクロマトグラフ飛行時間質量分析計

CRYO ARM™ 300 II (JEM-3300) 電界放出形クライオ電子顕微鏡

CRYO ARM™ 300 II (JEM-3300) 電界放出形クライオ電子顕微鏡

IB-10500HMS クロスセクションポリッシャ™ ハイスループットミリングシステム

IB-10500HMSクロスセクションポリッシャ™ハイスループットミリングシステム

Centri (マルチモードサンプリングTDシステム)

Centri(マルチモードサンプリングTDシステム)

Park NX10 / NX20 / FX40 研究用AFMソリューション

Park NX10 / NX20 / FX40研究用AFMソリューション

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TECHNOLOGY / CASE STUDY 技術・事例

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