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JASIS 2026

公開日: 2026/04/07

主催: (一社)日本分析機器工業会、(一社)日本科学機器協会

 

 
 

展示会へご来場の際は、スムーズなご入場のため事前来場登録をお願いいたします。 あわせて、JEOLはJASIS Web EXPOにも出展しております。過去のウェビナー講演動画や製品情報をご覧いただけますので、ぜひ事前の情報収集にお役立てください。

開催日程

2026年9月2日(水)~9月4日(金) 10:00~17:00

展示会場 / ブースNo.

幕張メッセ 国際展示場 / 5A-901
〒261-8550 千葉県千葉市美浜区中瀬2-1 アクセスマップ

出展者セミナー講演会場

幕張メッセ 国際会議場(国際展示場に隣接) アクセスマップ

TKP(旧アパ)会場 アクセスマップ

お問い合わせ

日本電子株式会社
デマンド推進本部
e-mail: jeol_event[at]jeol.co.jp

  • [at]は@に、ご変更ください。

展示製品情報

昨年好評だったSEMの試料交換をロボットアームで自動化する「Neo Action Robo」を展示します。これまで人手が必要だった試料交換を自動化することで、24時間連続運転や大量サンプルの効率的な処理を実現します。展示会場では、日本電子のSEM上位機種であるJSM-IT810を用いたデモを実施。無人化・省人化ニーズに応える次世代の自動化技術を、ぜひ会場でご体感ください。

Live Demo

ハイスループット解析電子顕微鏡 ACE eye™

Live Demo

電子顕微鏡 JEM-120i

Live&Remote Demo

ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡 JSM-IT810

Live Demo

走査電子顕微鏡 JSM-IT710HR

FIB-SEMシステム JIB-PS500i

Live Demo

エネルギー分散形蛍光X線分析装置 JSX-1000S

フィールドエミッション電子プローブマイクロアナライザー (FE-EPMA) JXA-iHP200F

エネルギー分散型X線分析装置 Gather-X JEDシリーズ ドライSD™ Windowless EDS

軟X線発光分光器 SXES (Soft X-Ray Emission Spectrometer)

高性能ガスクロマトグラフ飛行時間質量分析計 JMS-T2000GC AccuTOF™ GC-Alpha

JMS-Q1600GC UltraQuad™ 2.0 ガスクロマトグラフ四重極質量分析計

ガスクロマトグラフ三連四重極質量分析計 JMS-TQ4000GC UltraQuad™ TQ

大気圧イオン化飛行時間質量分析計 JMS-T100LP AccuTOF™ LC-Express

冷媒蒸発抑制装置 CR-80

ブース内セミナー

製品紹介や、応用事例を詳しくご紹介するブース内セミナーを随時開催します。 専門スタッフによる解説で、装置の魅力や活用方法をより深くご理解いただけます。お気軽にご参加ください。 プログラムが決定次第こちらに掲載いたします。掲載までしばしお待ちください。

アプリケーション展示情報

微細化・高密度化に伴う高度な計測検査市場の増加が見込まれる半導体分野や、構造生物学・創薬向けに原子レベルの構造解析を可能にする高精度な装置を用いたライフサイエンス分野向けのソリューションを展示します。

ライフサイエンス

 

また、その他、以下のようなさまざまな分野に対してのソリューション展示もご紹介いたします。

  • 医薬品

  • 電池

  • サスティナビリティ

  • 食品

  • 高分子

  • CLEM 光-電子相関顕微鏡法

  • 表面処理

サービス&ソリューション展示情報

 

JEOLは、装置を購入すること以外に新しい装置利用の提案をしています。
卓上SEMから試料作製装置、大型TEMやNMRまで、業界屈指の製品群を誇るJEOLのラインナップをお客様のご都合に合わせて、お気軽に使用いただけるプランを用意しています。

出展社セミナーのご案内

講演会場: 幕張メッセ国際会議場、TKP (旧アパ) 会場

毎年恒例の新技術説明会は出展社セミナーへと名前を変え、新技術に囚われることなく最新の分析機器 / 分析技術や分析ノウハウのご紹介を行います。

9月2日 (水)

日時 講演会場 タイトル
要旨
10:30~11:00 TKP (旧アパ)
会場 No.3

SEM-EDSを⽤いた元素分析の次のステップ
- EDS機能を理解し解析を深めるためのポイント -

SEM-EDSによる元素分析では、定性・定量解析に加えて解析を深めるための付属機能が用意されています。本講演では、弊社製EDSの各種機能を中心に、粒子解析や相分析など日常の解析に役立つ機能をご紹介します。

11:15~11:45 TKP (旧アパ)
会場 No.9

表⾯を整えると、観察はここまで良くなる
-平⾯ミリングによる試料前処理のアプローチ

試料表面の汚染物や研磨傷を除去する手法として、イオン照射による平面ミリングは有効です。本発表では、直径20mmの広範囲平面ミリングと熱ダメージを抑えた冷却平面ミリングを紹介します。

12:00~12:30 TKP (旧アパ)
会場 No.7

最新卓上SEMが切り拓く新時代
- 4つのLive測定と全⾃動ワークフローの⾰新的分析

本セミナーでは、Live測定を進化させた最新卓上SEMを紹介します。4つのLive測定で試料をその場で捉え、観察・分析・レポートを全自動化し、幅広い現場で活用できる操作性と利便性を解説します。

13:30~14:00 TKP (旧アパ)
会場 No.5

粒⼦解析で気をつけていること
- SEM測定者の考え⽅ -

SEMによる粒子解析を行う際、試料準備や観察条件の設定について意識している点は何か、日頃の経験をもとに紹介します。

15:00~15:30 TKP (旧アパ)
会場 No.5

電⼦スピン共鳴(ESR)法の結晶材料や電気化学反応への応⽤

ESR法は、ラジカルの種類や反応性・運動性、固体中の欠陥構造に関する情報を明らかにする分光法です。本発表では、ESR法の基礎を紹介するとともに結晶材料の構造解析や電気化学反応への応用例を紹介します。

15:45~16:15 TKP (旧アパ)
会場 No.9

技術⾰新とワークフロー最適化が切り拓く次世代 Cryo-EM

技術革新とAI活用ワークフローにより、データ取得効率と再現性を向上させ、高品質な解析を可能にする次世代Cryo‑EM技術を紹介します。

9月3日 (木)

日時 講演会場 タイトル
要旨
10:15~10:45 TKP (旧アパ)
会場 No.2

「はじめの⼀歩から基本のおさらいまで」ウルトラミクロトームによるTEM試料作製

ウルトラミクロトームによるTEM試料作製の基礎と再確認ポイントを、初学者にも分かりやすく解説します。生体・高分子試料の前処理における注意点や基本的な流れとともに日常業務の見直しに役立つ内容を紹介します。

12:00~12:30 幕張メッセ会議場
101会議室

ヘリウム供給不安時代に対応する、定期充填に依存しないNMR運⽤

世界的なヘリウム供給不安定化に対応し、ヘリウムの定期充填に依存せずNMR装置を維持可能なJEOLソリューションをご紹介します。

12:45~13:45 TKP (旧アパ)
会場 No.6

GC-MS分析の基礎とAIを活⽤したデータ解析⼊⾨

質量分析法は、幅広い分野で用いられている高性能な分析手法です。本セミナーではGC‑MS分析の基礎を中心に解説するとともに、AIを活用した定性解析支援の利点や、解析効率向上の可能性について紹介します。

14:15~14:45 TKP (旧アパ)
会場 No.5

誰でもカンタン︕GC-MS⽤定量解析ソフトウェア「msQuantEye」で⽇々の業務をもっと気軽に

「msQuantEye」は初心者でも直感的に使える操作性と見やすい解析結果表示、解析アシスタント機能により、定量解析のハードルを下げ、業務負担を軽減します。発表では操作画面や解析結果の例を示しその魅力を紹介します。

14:45~15:15 幕張メッセ会議場
101会議室

TEMの世界へようこそ - しくみ・観察・活⽤の基礎 -

透過型電子顕微鏡(TEM)は材料試料や生物試料をナノレベルで観察することができるツールであり、その観察手法や応用は多岐に渡ります。本発表ではこれからTEMを始める方へ、基礎的な原理や観察例を紹介します。

15:45~16:15 TKP (旧アパ)
会場 No.7

謎の⽩い粉で困っていませんか︖その正体、結晶構造までわかります

全く不明の微結晶粉末から、何の事前情報もなく化学構造から結晶構造まで明らかにする新規ワークフローを提案いたします。

9月4日 (金)

日時 講演会場 タイトル
要旨
10:30~11:00 TKP (旧アパ)
会場 No.9

半導体品質管理を⽀える︕質量分析法による有機物構造解析の最前線

半導体デバイスの品質管理では製造工程における有機物構造解析が重要です。本セミナーでは高分解能質量分析計によるIPA不純物分析とフォトレジスト構造解析を紹介します。

11:15~11:45 TKP (旧アパ)
会場 No.5

広帯域パルスを使った含フッ素化合物のNMR測定法

含フッ素化合物は医薬の分野で重量な役割を果たしています。構造解析にはNMRが強力なツールですが、19Fの広い化学シフト範囲が大きな問題でした。本発表では、広帯域パルスを用いた19F NMR測定法を紹介いたします。

11:45~12:15 TKP (旧アパ)
会場 No.2

電⼦回折(MicroED)︓従来法では取得不可能な⽴体構造を掴め︕

電子回折(MicroED)法を用いた構造解析を紹介します。ごく微小な粉末から結晶構造解析を行うことができ、透過型電子顕微鏡のグリッドに試料を載せるだけなので、従来法では適用不可能な微量であっても測定が可能です。

12:30~13:00 TKP (旧アパ)
会場 No.4

SEMを“観察”だけで終わらせない
- 分析の幅を広げる「アタッチメントの世界」-

近年、複合的な分析が求められる中でSEMの役割も広がっています。本発表ではEDSやEBSDに加え引張や充放電などの外部刺激による変化を捉える「その場観察」も取り上げ、SEM活用の幅を広げるアタッチメントを紹介します。

14:00~14:30 TKP (旧アパ)
会場 No.2

AI活⽤でGC-MS未知物質解析はここまでわかる︕
- AccuTOF™ GC-Alpha 2.0 の実⼒

有機溶媒中の未知不純物解析を例として、新機能を搭載したGC-TOFMS 「 AccuTOF™ GC-Alpha 2.0」と、AIを活用した構造解析ソフトウェア「msFineAnalysis AI Ver.3」を用いた未知物質の同定手法を解説いたします。

15:00~15:30 TKP (旧アパ)
会場 No.3

試料加熱を組み合わせた広域分析型XPS装置JPS-9030の紹介

日本電子製XPS装置JPS-9030は真空雰囲気内で試料を加熱するアタッチメントが搭載可能です。
加熱しながらXPS測定が可能で、特定温度での可逆反応などを分析できます。本発表では試料加熱の分析例を紹介いたします。

15:45~16:15 TKP (旧アパ)
会場 No.9

「わからない」で終わらせない。AIを活⽤したGC-MS⽤未知物質解析ソフトウェアの新提案

AIを活用した新しい構造推定手法”AI構造解析”を搭載したGC-MS用定性解析ソフトウェアmsFineAnalysis IQがついに登場しました。今回はAIを活用した本ソフトウェアの特長と、アプリケーション事例を紹介します。

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